比特28

    AX-50
    光芯片AI缺陷检测系统
    1. 多料盒自动上下片,支持4~6英寸,自动打墨点。
    2. 高速图像采集及并行处理,图像处理吞吐量 > 100张/秒。
    3. 融合注意力机制,聚焦关键区域,最小检测缺陷 < 0.5um。
    4. 支持背面检测功能,自动完成双面检测,结果自动合档。
    5. AI自适应分割技术,不同批次芯片保持一致的缺陷识别率。
    6. 可视化界面配置检测策略,调整卡控条件,管理样本库。

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