比特28

    先进封装测试解决方案
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    l 适用于WLP、CSP、TSV、SIP、2.5/3D IC

    l 解决翘曲片传输吸附、对针及针痕识别等痛点

    l 支持主流测试系统连接

    l 自动化系统连接，EAP，OHT，AGV等

    其他解决方案
    以客户为中心，解决不同场景测试需求，实现更加丰富的效果
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